英國(guó)abi-BM8300電路板故障檢測(cè)儀
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產(chǎn)品型號(hào)：BM8300
產(chǎn)品代碼：
產(chǎn)品價(jià)格：
折 扣 率： 0
最后更新：2025-05-15
關(guān) 注 度：7228
生產(chǎn)企業(yè)：北京金三航科技發(fā)展有限公司
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產(chǎn)品詳細(xì)介紹一、BM8300電路板故障測(cè)試儀系統(tǒng)組成
1.系統(tǒng)硬件測(cè)試平臺(tái)：（各個(gè)測(cè)試單元可根據(jù)測(cè)試需要擴(kuò)充測(cè)試模塊以達(dá)到所需的測(cè)試通道）
1)多電源數(shù)字集成電路測(cè)試單元（數(shù)字電路測(cè)試單元）：可擴(kuò)充：2048路測(cè)試通道；
2)模擬集成電路測(cè)試單元（模擬器件測(cè)試單元）；
3)可編程程控電源單元：可根據(jù)測(cè)試需要擴(kuò)充電源通道；
4)硬件測(cè)試框架；
2.可編程軟件測(cè)試平臺(tái)：
1)非代碼編程：測(cè)試流程管理，形成流程化、標(biāo)準(zhǔn)化、信息化的測(cè)試程序；
2)代碼編程：自動(dòng)化、半自動(dòng)化電路板整板測(cè)試，實(shí)現(xiàn)電路板批量化測(cè)試、電路板生產(chǎn)檢驗(yàn)測(cè)試、電路板一致性分析測(cè)試。
3.測(cè)試夾具：
1)測(cè)試夾具：日常手工測(cè)試所需要的夾具；
2)治具：電路板整板測(cè)試的專用測(cè)試工裝（定制：包括：針床、專用接口板等）
（一）BM8300電路板故障測(cè)試儀系統(tǒng)硬件測(cè)試平臺(tái)功能：
1.多電源數(shù)字集成電路測(cè)試單元（數(shù)字電路測(cè)試單元）：可擴(kuò)充：2048路測(cè)試通道；
單元由abi-6500模塊*1組成
1)64*1通道（可擴(kuò)充至2048通道）
2)數(shù)字器件功能測(cè)試，管腳電壓，管腳連接狀態(tài)，溫度拐點(diǎn)系數(shù)，數(shù)字V-I測(cè)試
3)高級(jí)邏輯時(shí)序發(fā)生器
4)電路板故障高級(jí)查找功能
5)短路追蹤（通斷測(cè)量）
6)未知型號(hào)器件的判別
2.模擬集成電路測(cè)試單元（模擬器件測(cè)試單元）
單元由abi-2500模塊*1組成
1)模擬器件V-I曲線測(cè)試，矩陣測(cè)試；
2)24路測(cè)試通道，2通道探筆測(cè)試，2通道同步脈沖輸出，3路分立器件測(cè)試通道；
3)各種器件的V-I, V-T, I-T曲線測(cè)試；
4)模擬集成電路及分立器件測(cè)試功能。
3.可編程程控電源單元
單元由abi-1200模塊*1組成
1)規(guī)格：三路可調(diào)輸出，可串并聯(lián)；
2)通道完全隔離；
3)每路提供0～±40VDC、8Amax、40Wmax
4)具備過壓、過流保護(hù)
5)遠(yuǎn)端電壓監(jiān)測(cè)補(bǔ)償功能
4.硬件測(cè)試框架
英國(guó)原產(chǎn)5U微塔式機(jī)箱，通過USB線可連接任何電腦（可以最大安裝五組模塊）。
（二）可編程軟件測(cè)試平臺(tái)功能
中英文軟件，可通過編程軟件對(duì)所有模塊進(jìn)行操作控制
1.具有測(cè)試流程記憶功能（軟件具有強(qiáng)大的測(cè)試流程編輯和記錄功能）
2.測(cè)試流程的制定貫穿整個(gè)測(cè)試過程，使電路測(cè)試過程形成標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試流程（維修流程、生產(chǎn)流程、 測(cè)試流程）。可以按照測(cè)試要求，保存流程測(cè)試的所有步驟和數(shù)據(jù)，形成標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試流程。保證了測(cè)試工藝的一致性，排除人為因素的干擾。使測(cè)試簡(jiǎn)單、容易、標(biāo)準(zhǔn)化、工藝化。
3.全面記錄各種測(cè)試信息。軟件可將標(biāo)準(zhǔn)電路板上測(cè)量到的管腳電壓、連接關(guān)系、功能測(cè)試結(jié)果等 信息以及V-I和V-T曲線圖都存儲(chǔ)記錄到測(cè)試流程中，方便隨時(shí)與其他電路板進(jìn)行對(duì)比，大大簡(jiǎn)化了測(cè)試中需要重復(fù)對(duì)比的工作。
4.軟件在測(cè)試流程中允許用戶加入對(duì)測(cè)試步驟的文字說明、照片、Office Word、Office Excel、PDF文檔、網(wǎng)頁鏈接、視頻等，極大提升了測(cè)試效率。
5.圖形化測(cè)試庫(kù)編輯器，圖形化定義輸入激勵(lì)信號(hào)及測(cè)試記錄輸出的標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)信號(hào)，快速建立元器件與電路板測(cè)試庫(kù)。元器件與整板測(cè)試庫(kù)擴(kuò)充簡(jiǎn)單、快捷，非專業(yè)人員可以快速擴(kuò)充測(cè)試庫(kù)。
6.*測(cè)試數(shù)據(jù)記錄并生成自定義檢測(cè)報(bào)告。系統(tǒng)的測(cè)試數(shù)據(jù)可以根據(jù)需要定制生成自定義測(cè)試報(bào)告。測(cè)試報(bào)告可以包含用戶關(guān)注的測(cè)試數(shù)據(jù)與測(cè)試結(jié)果。生成用戶專有的測(cè)試報(bào)告，方便測(cè)試數(shù)據(jù)的保存。
7.*中文、英文測(cè)試操作軟件，中文軟件漢化到各級(jí)菜單（完整漢化版），提供免費(fèi)終生軟件的升級(jí)服務(wù)；
8.智能化編程，通過TFL編輯器，可對(duì)測(cè)試的每個(gè)步驟進(jìn)行編程，TFL編輯器包括：WHILE、IF、STARTLOGDB、WRITELOGDB、SYSTEM等21個(gè)編程命令。
（三）測(cè)試夾具功能
1.測(cè)試夾具附件，包括：DIL等各種器件測(cè)試夾具1套（日常手工測(cè)試所需要的夾具）；
2.治具需要定制服務(wù)：電路板整板測(cè)試的專用測(cè)試工裝（包括：針床、專用接口板等）；
可選配件：SOIC測(cè)試夾具、離線測(cè)試盒、分立器件測(cè)試探筆套裝等。
二、BM-8300電路板故障測(cè)試儀系統(tǒng)功能特點(diǎn)
1.*硬件系統(tǒng)模塊化設(shè)計(jì)，可根據(jù)要求擴(kuò)充測(cè)試模塊和測(cè)試通道。
2.*軟件系統(tǒng)測(cè)試過程流程化設(shè)計(jì)，可以通過編程與非編程方式實(shí)現(xiàn)測(cè)試過程流程化；完成了流程化設(shè)計(jì)的電路板可以實(shí)現(xiàn)人工快速、半自動(dòng)化故障排查及板級(jí)系統(tǒng)測(cè)試，提高排故和測(cè)試效率。
3.*測(cè)試數(shù)據(jù)記錄并生成自定義檢測(cè)報(bào)告。系統(tǒng)的測(cè)試數(shù)據(jù)可以根據(jù)需要定制生成自定義測(cè)試報(bào)告。測(cè)試報(bào)告包含用戶關(guān)注的測(cè)試數(shù)據(jù)與測(cè)試結(jié)果。生成用戶專有的測(cè)試報(bào)告，方便測(cè)試數(shù)據(jù)的保存。
4.*多電源數(shù)字電路測(cè)試模塊具備64通道數(shù)字集成電路在線、離線功能測(cè)試（可擴(kuò)充到2048通道），每個(gè)通道可以根據(jù)需要分別獨(dú)立定義為：輸入/電壓測(cè)量、輸出/信號(hào)驅(qū)動(dòng)或V/I曲線測(cè)量；可進(jìn)行自定義測(cè)試，器件與整板的自定義仿真測(cè)試。
5.*具備閾值電平臨界點(diǎn)掃描測(cè)試功能，確定標(biāo)準(zhǔn)板電平臨界值，可以檢查故障板器件的穩(wěn)定性。
6.*系統(tǒng)各個(gè)模塊在同一個(gè)專業(yè)平臺(tái)操控下同時(shí)運(yùn)行，完成流程化、步驟化、標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試并生成自定義測(cè)試報(bào)告。
7.可編程程控電源模塊具備3通道隔離電源輸出，電源輸出由系統(tǒng)軟件來控制，三個(gè)通道可以支持串并聯(lián)以增加電壓和電流的輸出范圍。電源供應(yīng)器模塊可根據(jù)流程設(shè)計(jì)，自動(dòng)開啟和關(guān)閉測(cè)試所需的電源。電源配合其他模塊使用，可實(shí)現(xiàn)整板測(cè)試與多電源測(cè)試的流程自動(dòng)化。
8.多達(dá)上萬種的數(shù)字器件測(cè)試庫(kù)，測(cè)試器件庫(kù)涵蓋常用的器件。也可以通過圖形化器件編輯器快速擴(kuò)充與自定義器件測(cè)試庫(kù)。可以通過圖形化器件編輯器定義輸入激勵(lì)信號(hào)及測(cè)試輸出的標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)信號(hào)，快速批量建立元器件和整板測(cè)試庫(kù)。
9.系統(tǒng)含有模擬器件測(cè)試庫(kù)，可對(duì)放大器、比較器、二極管、三極管、晶閘管、場(chǎng)效應(yīng)晶體管、光耦器件、AD和DA數(shù)模轉(zhuǎn)換器件等模擬集成電路進(jìn)行功能測(cè)試。
10.系統(tǒng)可對(duì)各種器件進(jìn)行端口測(cè)試：V-I、V-T、I-T測(cè)試。測(cè)試頻率高達(dá)到12kHz, 非常合適測(cè)試電感及高頻電容器件。可設(shè)定同步脈沖信號(hào)的幅值與寬度, 進(jìn)行可控硅元器件或FET的功能測(cè)試。
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