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          英國abi-SWA512集成電路測試儀
          產品型號:SWA512
          產品代碼:
          產品價格:
          折 扣 率: 0
          最后更新:2022-06-11
          關 注 度:7409
          生產企業:北京金三航科技發展有限公司
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          產品詳細介紹
          測試通道:
          二維V-I動態阻抗端口測試通道:512路
          二維V-I動態阻抗端口矩陣測試通道:512路
          三維V-I-F動態阻抗端口測試通道:512路
          設備可以64通道為步進最大擴充到2048組測試通道

          功能用途:
          1)集成電路的來料質量控制檢測與篩選、一致性檢測;
          2)可用于集成電路、元器件研發測試;三維立體動態阻抗測試;
          3)快速篩選假冒、仿制集成電路及元器件;
          4)對不良器件進行三維動態阻抗失效分析;
          5)非加電條件下對集成電路、電路板進行全面的端口動態阻抗測試分析;
          6)快速準確定位失效集成電路故障管腳,高效查找故障電路板的失效I/O管腳;
          7)測試安全可靠,全面解決器件工藝、電路板工藝問題,快速解決集成電路及電路板故障點定位問題;
          8)進行集成電路和電路板阻抗一致性檢測;
          9)專業操作管理平臺:可根據需求編輯測試流程程序,完成自定義化測試,軟件管理平臺兼容其他廠商設備。測試流程的制定貫穿整個測試過程,使集成電路、電路測試的過程形成標準的測試流程(維修流程、生產流程)。保證了測試工藝的一致性,排除人為因素的干擾。使測試簡單、容易、標準化。

          技術規格:
          二維V-I動態阻抗端口測試通道:512路
          二維V-I動態阻抗端口矩陣測試通道:512路
          三維V-I-F動態阻抗端口測試通道:512路
          設備可以64通道為步進最大擴充到2048組測試通道
          實時探筆對比測試通道:4路
          同步脈沖信號:4路
          測試電壓范圍:2 V ~ 50 Vp-p;
          顯示圖形模式:V-I、V-T、V-I-F、V-T-F;
          信號電流范圍: 1 μA to 150 mA
          測試阻抗范圍 : 100Ω ~ 1MΩ;
          三維立體V-I-F測量方式:掃頻;
          同步脈沖輸出模式:單脈沖、雙脈沖、三脈沖、四脈沖;
          同步信號振幅:可調式由 +10 V ~- 10V;

          主要優勢:
          1)提供軟件開發平臺,兼容其他廠商測試設備;
          2)特有的V-T模式可測量器件的開關時間特性(配合同步脈沖);可設定同步脈沖信號的寬度,進行可控硅元器件或FET的功能測試。可測試三段期間開關時間特性。
          3)動態阻抗分析功能,可以對三維圖形進行參數的測量;
          4)變頻或掃頻三維立體V-I-F測量方式,三維立體顯示器件的端口特性曲線,可以查找與器件頻率有關的故障。檢查與頻率特性有關的器件或集成電路。
          5)非加電條件下靜態診斷集成電路, 不必外加電源即可進行測試。測試更安全:矩陣式掃頻測試,脈沖輸出進行的動態V/T測試。
          了解詳細資料請點擊:http://www.ictester.net https://www.2468.cn http://www.tester.cn
          北京金三航科技發展有限公司
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